Recombination lifetime measurements in silicon /

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Diğer Yazarlar: Gupta, Dinesh C., Bacher, Fred R., Hughes, William M.
Materyal Türü: Kitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: West Conshohocken, PA : ASTM, c1998.
Konular:
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
Diğer Bilgiler
Diğer Bilgileri:Papers presented at the Advanced Workshop on Silicon Recombination Lifetime Characterization Methods, held in Santa Clara, Calif on June 2-3, 1997.
"STP 1340."
Fiziksel Özellikler:392 p. : ill. ; 24 cm.
Bibliyografya:Includes bibliographical references and indexes.
ISBN:0803124899