Recombination lifetime measurements in silicon /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Gupta, Dinesh C., Bacher, Fred R., Hughes, William M.
Formatua: Liburua
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: West Conshohocken, PA : ASTM, c1998.
Gaiak:
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
Deskribapena
Alearen deskribapena:Papers presented at the Advanced Workshop on Silicon Recombination Lifetime Characterization Methods, held in Santa Clara, Calif on June 2-3, 1997.
"STP 1340."
Deskribapen fisikoa:392 p. : ill. ; 24 cm.
Bibliografia:Includes bibliographical references and indexes.
ISBN:0803124899