Recombination lifetime measurements in silicon /

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Autres auteurs: Gupta, Dinesh C., Bacher, Fred R., Hughes, William M.
Format: Livre
Langue:anglais
Publié: West Conshohocken, PA : ASTM, c1998.
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Description
Description:Papers presented at the Advanced Workshop on Silicon Recombination Lifetime Characterization Methods, held in Santa Clara, Calif on June 2-3, 1997.
"STP 1340."
Description matérielle:392 p. : ill. ; 24 cm.
Bibliographie:Includes bibliographical references and indexes.
ISBN:0803124899