Recombination lifetime measurements in silicon /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Gupta, Dinesh C., Bacher, Fred R., Hughes, William M.
Format: Książka
Język:angielski
Wydane: West Conshohocken, PA : ASTM, c1998.
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Opis
Deskrypcja:Papers presented at the Advanced Workshop on Silicon Recombination Lifetime Characterization Methods, held in Santa Clara, Calif on June 2-3, 1997.
"STP 1340."
Opis fizyczny:392 p. : ill. ; 24 cm.
Bibliografia:Includes bibliographical references and indexes.
ISBN:0803124899