Recombination lifetime measurements in silicon /

Spremljeno u:
Bibliografski detalji
Daljnji autori: Gupta, Dinesh C., Bacher, Fred R., Hughes, William M.
Format: Knjiga
Jezik:engleski
Izdano: West Conshohocken, PA : ASTM, c1998.
Teme:
Oznake: Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
Opis
Opis predmeta:Papers presented at the Advanced Workshop on Silicon Recombination Lifetime Characterization Methods, held in Santa Clara, Calif on June 2-3, 1997.
"STP 1340."
Opis fizičkog objekta:392 p. : ill. ; 24 cm.
Bibliografija:Includes bibliographical references and indexes.
ISBN:0803124899