Recombination lifetime measurements in silicon /

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Altres autors: Gupta, Dinesh C., Bacher, Fred R., Hughes, William M.
Format: Llibre
Idioma:anglès
Publicat: West Conshohocken, PA : ASTM, c1998.
Matèries:
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
Descripció
Descripció de l’ítem:Papers presented at the Advanced Workshop on Silicon Recombination Lifetime Characterization Methods, held in Santa Clara, Calif on June 2-3, 1997.
"STP 1340."
Descripció física:392 p. : ill. ; 24 cm.
Bibliografia:Includes bibliographical references and indexes.
ISBN:0803124899