תמונות העטיפה

Recombination lifetime measurements in silicon /

שמור ב:
מחברים אחרים: Gupta, Dinesh C., Bacher, Fred R., Hughes, William M.
פורמט: ספר
שפה:אנגלית
יצא לאור: West Conshohocken, PA : ASTM, c1998.
נושאים:
Semiconductors > Testing > Congresses.
Service life (Engineering) > Forecasting > Congresses.
Electronic measurements > Congresses.
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
תאור פריט:Papers presented at the Advanced Workshop on Silicon Recombination Lifetime Characterization Methods, held in Santa Clara, Calif on June 2-3, 1997.
"STP 1340."
תיאור פיזי:392 p. : ill. ; 24 cm.
ביבליוגרפיה:Includes bibliographical references and indexes.
ISBN:0803124899

פריטים דומים