Recombination lifetime measurements in silicon /

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Drugi avtorji: Gupta, Dinesh C., Bacher, Fred R., Hughes, William M.
Format: Knjiga
Jezik:angleščina
Izdano: West Conshohocken, PA : ASTM, c1998.
Teme:
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!
Opis
Opis knjige/članka:Papers presented at the Advanced Workshop on Silicon Recombination Lifetime Characterization Methods, held in Santa Clara, Calif on June 2-3, 1997.
"STP 1340."
Fizični opis:392 p. : ill. ; 24 cm.
Bibliografija:Includes bibliographical references and indexes.
ISBN:0803124899