Recombination lifetime measurements in silicon /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Другие авторы: Gupta, Dinesh C., Bacher, Fred R., Hughes, William M.
Формат:
Язык:английский
Опубликовано: West Conshohocken, PA : ASTM, c1998.
Предметы:
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Описание
Примечание:Papers presented at the Advanced Workshop on Silicon Recombination Lifetime Characterization Methods, held in Santa Clara, Calif on June 2-3, 1997.
"STP 1340."
Объем:392 p. : ill. ; 24 cm.
Библиография:Includes bibliographical references and indexes.
ISBN:0803124899