Gupta, D. C., Bacher, F. R., & Hughes, W. M. (1998). Recombination lifetime measurements in silicon. ASTM.
Panoya başarıyla kopyalandı
Panoya kopyalama başarısız oldu
Chicago Style (17. basım) Atıf
Gupta, Dinesh C., Fred R. Bacher, ve William M. Hughes. Recombination Lifetime Measurements in Silicon. West Conshohocken, PA: ASTM, 1998.
Panoya başarıyla kopyalandı
Panoya kopyalama başarısız oldu
MLA (9th ed.) Atıf
Gupta, Dinesh C., et al. Recombination Lifetime Measurements in Silicon. ASTM, 1998.
Panoya başarıyla kopyalandı
Panoya kopyalama başarısız oldu
Uyarı: Bu alıntı herzaman %100 doğru olmayabilir..