Semiconductor material and device characterization /
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| 主要作者: | |
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| 格式: | 图书 |
| 语言: | 英语 |
| 出版: |
[Piscataway, NJ] : Hoboken, N.J. :
IEEE Press ; Wiley,
c2006.
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| 版: | 3rd ed. |
| 主题: | |
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| Item Description: | "Wiley-Interscience." |
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| 实物描述: | xv, 779 p. : ill. ; 25 cm. |
| 参考书目: | Includes bibliographical references and index. |
| ISBN: | 0471739065 (acidfree paper) 9780471739067 |