Semiconductor material and device characterization /
Bewaard in:
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Boek |
| Taal: | Engels |
| Gepubliceerd in: |
[Piscataway, NJ] : Hoboken, N.J. :
IEEE Press ; Wiley,
c2006.
|
| Editie: | 3rd ed. |
| Onderwerpen: | |
| Online toegang: | Publisher description Table of contents only Contributor biographical information |
| Tags: |
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
| Beschrijving item: | "Wiley-Interscience." |
|---|---|
| Fysieke beschrijving: | xv, 779 p. : ill. ; 25 cm. |
| Bibliografie: | Includes bibliographical references and index. |
| ISBN: | 0471739065 (acidfree paper) 9780471739067 |