Semiconductor material and device characterization /
Shranjeno v:
| Glavni avtor: | |
|---|---|
| Format: | Knjiga |
| Jezik: | angleščina |
| Izdano: |
[Piscataway, NJ] : Hoboken, N.J. :
IEEE Press ; Wiley,
c2006.
|
| Izdaja: | 3rd ed. |
| Teme: | |
| Online dostop: | Publisher description Table of contents only Contributor biographical information |
| Oznake: |
Brez oznak, prvi označite!
|
| Opis knjige/članka: | "Wiley-Interscience." |
|---|---|
| Fizični opis: | xv, 779 p. : ill. ; 25 cm. |
| Bibliografija: | Includes bibliographical references and index. |
| ISBN: | 0471739065 (acidfree paper) 9780471739067 |