Semiconductor material and device characterization /
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | Αγγλικά |
| Έκδοση: |
[Piscataway, NJ] : Hoboken, N.J. :
IEEE Press ; Wiley,
c2006.
|
| Έκδοση: | 3rd ed. |
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | Publisher description Table of contents only Contributor biographical information |
| Ετικέτες: |
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
| Περιγραφή τεκμηρίου: | "Wiley-Interscience." |
|---|---|
| Φυσική περιγραφή: | xv, 779 p. : ill. ; 25 cm. |
| Βιβλιογραφία: | Includes bibliographical references and index. |
| ISBN: | 0471739065 (acidfree paper) 9780471739067 |