Semiconductor material and device characterization /
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
[Piscataway, NJ] : Hoboken, N.J. :
IEEE Press ; Wiley,
c2006.
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| Ausgabe: | 3rd ed. |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Publisher description Table of contents only Contributor biographical information |
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| Beschreibung: | "Wiley-Interscience." |
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| Beschreibung: | xv, 779 p. : ill. ; 25 cm. |
| Bibliographie: | Includes bibliographical references and index. |
| ISBN: | 0471739065 (acidfree paper) 9780471739067 |