Semiconductor material and device characterization /
保存先:
| 第一著者: | |
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| フォーマット: | 図書 |
| 言語: | 英語 |
| 出版事項: |
[Piscataway, NJ] : Hoboken, N.J. :
IEEE Press ; Wiley,
c2006.
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| 版: | 3rd ed. |
| 主題: | |
| オンライン･アクセス: | Publisher description Table of contents only Contributor biographical information |
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| 記述事項: | "Wiley-Interscience." |
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| 物理的記述: | xv, 779 p. : ill. ; 25 cm. |
| 書誌: | Includes bibliographical references and index. |
| ISBN: | 0471739065 (acidfree paper) 9780471739067 |