Semiconductor material and device characterization /
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|---|---|
| Format: | Livre |
| Langue: | anglais |
| Publié: |
[Piscataway, NJ] : Hoboken, N.J. :
IEEE Press ; Wiley,
c2006.
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| Édition: | 3rd ed. |
| Sujets: | |
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| Description: | "Wiley-Interscience." |
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| Description matérielle: | xv, 779 p. : ill. ; 25 cm. |
| Bibliographie: | Includes bibliographical references and index. |
| ISBN: | 0471739065 (acidfree paper) 9780471739067 |