Semiconductor material and device characterization /
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
[Piscataway, NJ] : Hoboken, N.J. :
IEEE Press ; Wiley,
c2006.
|
| Редактирование: | 3rd ed. |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | Publisher description Table of contents only Contributor biographical information |
| Метки: |
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Примечание: | "Wiley-Interscience." |
|---|---|
| Объем: | xv, 779 p. : ill. ; 25 cm. |
| Библиография: | Includes bibliographical references and index. |
| ISBN: | 0471739065 (acidfree paper) 9780471739067 |