תמונות העטיפה

Semiconductor material and device characterization /

שמור ב:
מחבר ראשי: Schroder, Dieter K.
פורמט: ספר
שפה:אנגלית
יצא לאור: [Piscataway, NJ] : Hoboken, N.J. : IEEE Press ; Wiley, c2006.
מהדורה:3rd ed.
נושאים:
Semiconductors.
Semiconductors > Testing.
גישה מקוונת:Publisher description
Table of contents only
Contributor biographical information
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
תאור פריט:"Wiley-Interscience."
תיאור פיזי:xv, 779 p. : ill. ; 25 cm.
ביבליוגרפיה:Includes bibliographical references and index.
ISBN:0471739065 (acidfree paper)
9780471739067

פריטים דומים