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Recombination lifetime measurements in silicon /

Na minha lista:
Outros Autores: Gupta, Dinesh C., Bacher, Fred R., Hughes, William M.
Formato: Livro
Idioma:inglês
Publicado em: West Conshohocken, PA : ASTM, c1998.
Assuntos:
Semiconductors > Testing > Congresses.
Service life (Engineering) > Forecasting > Congresses.
Electronic measurements > Congresses.
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