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Recombination lifetime measurements in silicon /

Salvato in:
Altri autori: Gupta, Dinesh C., Bacher, Fred R., Hughes, William M.
Natura: Libro
Lingua:inglese
Pubblicazione: West Conshohocken, PA : ASTM, c1998.
Soggetti:
Semiconductors > Testing > Congresses.
Service life (Engineering) > Forecasting > Congresses.
Electronic measurements > Congresses.
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