Recombination lifetime measurements in silicon /

Zapisane w:

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy:	Gupta, Dinesh C., Bacher, Fred R., Hughes, William M.
Format:	Książka
Język:	angielski
Wydane:	West Conshohocken, PA : ASTM, c1998.
Hasła przedmiotowe:	Semiconductors > Testing > Congresses. Service life (Engineering) > Forecasting > Congresses. Electronic measurements > Congresses.
Etykiety:	Dodaj etykietę Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Podobne zapisy: Recombination lifetime measurements in silicon /