Recombination lifetime measurements in silicon /

Gorde:

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk:	Gupta, Dinesh C., Bacher, Fred R., Hughes, William M.
Formatua:	Liburua
Hizkuntza:	ingelesa
Argitaratua:	West Conshohocken, PA : ASTM, c1998.
Gaiak:	Semiconductors > Testing > Congresses. Service life (Engineering) > Forecasting > Congresses. Electronic measurements > Congresses.
Etiketak:	Etiketa erantsi Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!

Antzeko izenburuak: Recombination lifetime measurements in silicon /