Schroder, D. K. (2006). Semiconductor material and device characterization (3rd ed.). IEEE Press ; Wiley.
Met succes gekopieerd naar Clipboard
Kopiëren naar Clipboard is mislukt
Chicago (17e ed.) Bronvermelding
Schroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 3rd ed. [Piscataway, NJ] : Hoboken, N.J.: IEEE Press ; Wiley, 2006.
Met succes gekopieerd naar Clipboard
Kopiëren naar Clipboard is mislukt
MLA (9e ed.) Bronvermelding
Schroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 3rd ed. IEEE Press ; Wiley, 2006.
Met succes gekopieerd naar Clipboard
Kopiëren naar Clipboard is mislukt
Let op: Deze citaties zijn niet altijd 100% accuraat.