APA-viite (7. p.)
Schroder, D. K. (2006). Semiconductor material and device characterization (3rd ed.). IEEE Press ; Wiley.
Chicago-viite (17. p.)
Schroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 3rd ed. [Piscataway, NJ] : Hoboken, N.J.: IEEE Press ; Wiley, 2006.
MLA-viite (9. p.)
Schroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 3rd ed. IEEE Press ; Wiley, 2006.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.