Schroder, D. K. (2006). Semiconductor material and device characterization (3rd ed.). IEEE Press ; Wiley.
Uspješno je kopirano u međuspremnik
Kopiranje u međuspremnik neuspjelo
Čikaški stil citiranja (17. izdanje)
Schroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 3rd ed. [Piscataway, NJ] : Hoboken, N.J.: IEEE Press ; Wiley, 2006.
Uspješno je kopirano u međuspremnik
Kopiranje u međuspremnik neuspjelo
MLA način citiranja (9. izdanje)
Schroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 3rd ed. IEEE Press ; Wiley, 2006.
Uspješno je kopirano u međuspremnik
Kopiranje u međuspremnik neuspjelo
Upozorenje: Ovi citati možda nisu uvijek 100% točni.