Schroder, D. K. (2006). Semiconductor material and device characterization (3rd ed.). IEEE Press ; Wiley.
Ondo kopiatu da
Kopiatzeak huts egin du
Chicago Style (17th ed.) Zitazioa
Schroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 3rd ed. [Piscataway, NJ] : Hoboken, N.J.: IEEE Press ; Wiley, 2006.
Ondo kopiatu da
Kopiatzeak huts egin du
MLA (9th ed.) Zitazioa
Schroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 3rd ed. IEEE Press ; Wiley, 2006.
Ondo kopiatu da
Kopiatzeak huts egin du
Kontuz: berrikusi erreferentzia hauek erabili aurretik.