Cita APA (7a ed.)
Schroder, D. K. (2006). Semiconductor material and device characterization (3rd ed.). IEEE Press ; Wiley.
Cita Chicago Style (17a ed.)
Schroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 3rd ed. [Piscataway, NJ] : Hoboken, N.J.: IEEE Press ; Wiley, 2006.
Cita MLA (9a ed.)
Schroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 3rd ed. IEEE Press ; Wiley, 2006.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.