Schroder, D. K. (2006). Semiconductor material and device characterization (3rd ed.). IEEE Press ; Wiley.
Η αντιγραφή στο πρόχειρο ολοκληρώθηκε επιτυχώς
Η αντιγραφή στο πρόχειρο απέτυχε
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)
Schroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 3rd ed. [Piscataway, NJ] : Hoboken, N.J.: IEEE Press ; Wiley, 2006.
Η αντιγραφή στο πρόχειρο ολοκληρώθηκε επιτυχώς
Η αντιγραφή στο πρόχειρο απέτυχε
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)
Schroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 3rd ed. IEEE Press ; Wiley, 2006.
Η αντιγραφή στο πρόχειρο ολοκληρώθηκε επιτυχώς
Η αντιγραφή στο πρόχειρο απέτυχε
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.