Recombination lifetime measurements in silicon /

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Detalles Bibliográficos
Otros Autores:	Gupta, Dinesh C., Bacher, Fred R., Hughes, William M.
Formato:	Libro
Lenguaje:	inglés
Publicado:	West Conshohocken, PA : ASTM, c1998.
Materias:	Semiconductors > Testing > Congresses. Service life (Engineering) > Forecasting > Congresses. Electronic measurements > Congresses.
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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