ENHANCED DETECTION AND ANOMALY IDENTIFICATION IN CHIPLESS RFID SYSTEMS USING SCALABLE MACHINE LEARNING MODELS /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Afrin, Farhana
Другие авторы: Supervised by Lt Col Md. Aminul Islam (Engrs), Associate Professor, Dept of EECE, MIST
Формат:
Язык:английский
Опубликовано: Dhaka : CSE DEPT MIST c2025
Предметы:
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!