ENHANCED DETECTION AND ANOMALY IDENTIFICATION IN CHIPLESS RFID SYSTEMS USING SCALABLE MACHINE LEARNING MODELS /

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Afrin, Farhana
Andere auteurs: Supervised by Lt Col Md. Aminul Islam (Engrs), Associate Professor, Dept of EECE, MIST
Formaat: Boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: Dhaka : CSE DEPT MIST c2025
Onderwerpen:
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!