ENHANCED DETECTION AND ANOMALY IDENTIFICATION IN CHIPLESS RFID SYSTEMS USING SCALABLE MACHINE LEARNING MODELS /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Afrin, Farhana
Άλλοι συγγραφείς: Supervised by Lt Col Md. Aminul Islam (Engrs), Associate Professor, Dept of EECE, MIST
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: Dhaka : CSE DEPT MIST c2025
Θέματα:
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!