ENHANCED DETECTION AND ANOMALY IDENTIFICATION IN CHIPLESS RFID SYSTEMS USING SCALABLE MACHINE LEARNING MODELS /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Afrin, Farhana
Kolejni autorzy: Supervised by Lt Col Md. Aminul Islam (Engrs), Associate Professor, Dept of EECE, MIST
Format: Książka
Język:angielski
Wydane: Dhaka : CSE DEPT MIST c2025
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!