ENHANCED DETECTION AND ANOMALY IDENTIFICATION IN CHIPLESS RFID SYSTEMS USING SCALABLE MACHINE LEARNING MODELS /

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書誌詳細
第一著者: Afrin, Farhana
その他の著者: Supervised by Lt Col Md. Aminul Islam (Engrs), Associate Professor, Dept of EECE, MIST
フォーマット: 図書
言語:英語
出版事項: Dhaka : CSE DEPT MIST c2025
主題:
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