ENHANCED DETECTION AND ANOMALY IDENTIFICATION IN CHIPLESS RFID SYSTEMS USING SCALABLE MACHINE LEARNING MODELS /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Afrin, Farhana
מחברים אחרים: Supervised by Lt Col Md. Aminul Islam (Engrs), Associate Professor, Dept of EECE, MIST
פורמט: ספר
שפה:אנגלית
יצא לאור: Dhaka : CSE DEPT MIST c2025
נושאים:
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!