Recombination lifetime measurements in silicon /

Bewaard in:

Bibliografische gegevens
Andere auteurs:	Gupta, Dinesh C., Bacher, Fred R., Hughes, William M.
Formaat:	Boek
Taal:	Engels
Gepubliceerd in:	West Conshohocken, PA : ASTM, c1998.
Onderwerpen:	Semiconductors > Testing > Congresses. Service life (Engineering) > Forecasting > Congresses. Electronic measurements > Congresses.
Tags:	Voeg label toe Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!

MIST Central Library : Unknown

Exemplaargegevens van MIST Central Library : Unknown
Plaatsingsnummer:	621.318 HUB
Kopie 1	Beschikbaar Plaats een reservatie
Kopie 2	Beschikbaar Plaats een reservatie
Kopie 3	Beschikbaar Plaats een reservatie
Kopie 4	Beschikbaar Plaats een reservatie
Kopie 5	Beschikbaar Plaats een reservatie
Kopie 6	Beschikbaar Plaats een reservatie
Kopie 7	Checked out – Inleverdatum: 12-31-2025 23:59:00 Hou dit vast
Kopie 8	Beschikbaar Plaats een reservatie