Recombination lifetime measurements in silicon /

Guardat en:

Dades bibliogràfiques
Altres autors:	Gupta, Dinesh C., Bacher, Fred R., Hughes, William M.
Format:	Llibre
Idioma:	anglès
Publicat:	West Conshohocken, PA : ASTM, c1998.
Matèries:	Semiconductors > Testing > Congresses. Service life (Engineering) > Forecasting > Congresses. Electronic measurements > Congresses.
Etiquetes:	Afegir etiqueta Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!

MIST Central Library : Unknown

Detall dels fons de MIST Central Library : Unknown
Signatura:	621.318 HUB
Còpia 1	Disponible Fer una reserva
Còpia 2	Disponible Fer una reserva
Còpia 3	Disponible Fer una reserva
Còpia 4	Disponible Fer una reserva
Còpia 5	Disponible Fer una reserva
Còpia 6	Disponible Fer una reserva
Còpia 7	Checked out – Venciment: 12-31-2025 23:59:00 Reclamar aquest
Còpia 8	Disponible Fer una reserva