Gupta, D. C., Bacher, F. R., & Hughes, W. M. (1998). Recombination lifetime measurements in silicon. ASTM.
Kopierad till urklipp
Kopiering till urklipp misslyckades
Chicago-referens (17:e uppl.)
Gupta, Dinesh C., Fred R. Bacher, och William M. Hughes. Recombination Lifetime Measurements in Silicon. West Conshohocken, PA: ASTM, 1998.
Kopierad till urklipp
Kopiering till urklipp misslyckades
MLA-referens (9:e uppl.)
Gupta, Dinesh C., et al. Recombination Lifetime Measurements in Silicon. ASTM, 1998.
Kopierad till urklipp
Kopiering till urklipp misslyckades
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.