Gupta, D. C., Bacher, F. R., & Hughes, W. M. (1998). Recombination lifetime measurements in silicon. ASTM.
Η αντιγραφή στο πρόχειρο ολοκληρώθηκε επιτυχώς
Η αντιγραφή στο πρόχειρο απέτυχε
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)
Gupta, Dinesh C., Fred R. Bacher, και William M. Hughes. Recombination Lifetime Measurements in Silicon. West Conshohocken, PA: ASTM, 1998.
Η αντιγραφή στο πρόχειρο ολοκληρώθηκε επιτυχώς
Η αντιγραφή στο πρόχειρο απέτυχε
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)
Gupta, Dinesh C., et al. Recombination Lifetime Measurements in Silicon. ASTM, 1998.
Η αντιγραφή στο πρόχειρο ολοκληρώθηκε επιτυχώς
Η αντιγραφή στο πρόχειρο απέτυχε
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.