Gupta, D. C., Bacher, F. R., & Hughes, W. M. (1998). Recombination lifetime measurements in silicon. ASTM.
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शिकागो शैली (17वां संस्करण) प्रशस्ति पत्र
Gupta, Dinesh C., Fred R. Bacher, और William M. Hughes. Recombination Lifetime Measurements in Silicon. West Conshohocken, PA: ASTM, 1998.
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एमएलए (9वां संस्करण) प्रशस्ति पत्र
Gupta, Dinesh C., et al. Recombination Lifetime Measurements in Silicon. ASTM, 1998.
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