Gupta, D. C., Bacher, F. R., & Hughes, W. M. (1998). Recombination lifetime measurements in silicon. ASTM.
Copiat
No s'ha pogut copiar
Cita Chicago (17th ed.)
Gupta, Dinesh C., Fred R. Bacher, i William M. Hughes. Recombination Lifetime Measurements in Silicon. West Conshohocken, PA: ASTM, 1998.
Copiat
No s'ha pogut copiar
Cita MLA (9th ed.)
Gupta, Dinesh C., et al. Recombination Lifetime Measurements in Silicon. ASTM, 1998.
Copiat
No s'ha pogut copiar
Atenció: Aquestes cites poden no estar 100% correctes.