Gupta, D. C., Bacher, F. R., & Hughes, W. M. (1998). Recombination lifetime measurements in silicon. ASTM.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)
Gupta, Dinesh C., Fred R. Bacher, و William M. Hughes. Recombination Lifetime Measurements in Silicon. West Conshohocken, PA: ASTM, 1998.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)
Gupta, Dinesh C., et al. Recombination Lifetime Measurements in Silicon. ASTM, 1998.
تم النسخ إلى الحافظة بنجاح
فشل النسخ إلى الحافظة
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.