Semiconductor material and device characterization /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Schroder, Dieter K.
Format: Książka
Język:angielski
Wydane: [Piscataway, NJ] : Hoboken, N.J. : IEEE Press ; Wiley, c2006.
Wydanie:3rd ed.
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:Publisher description
Table of contents only
Contributor biographical information
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!