ENHANCED DETECTION AND ANOMALY IDENTIFICATION IN CHIPLESS RFID SYSTEMS USING SCALABLE MACHINE LEARNING MODELS /

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Afrin, Farhana
Diğer Yazarlar: Supervised by Lt Col Md. Aminul Islam (Engrs), Associate Professor, Dept of EECE, MIST
Materyal Türü: Kitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: Dhaka : CSE DEPT MIST c2025
Konular:
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
Diğer Bilgiler
Fiziksel Özellikler:xv, 57p. : ills. ; 29 cm. :
Bibliyografya:Includes bibliographical references.