Okładka

FAULT DIAGNOSIS OF DIFFERENTIAL AMPLIFIER ANALOG CIRCUITS USING BJT (ITC 97 BENCHMARK CIRCUITS) UTILIZING COMBINED EFFECT OF GAIN AND PHASE OF OUTPUT VOLTAGE WITH FREQUENCY /

Zapisane w:
1. autor: Rahman, Tasnim Ikra
Korporacja: Supervised by Hamidur Rahman (Professor, Electrical, Electronic and Communication Engineering, BUET, Dhaka.)
Kolejni autorzy: Bushra Bente Khaai, Nishat Tasnim Liza
Format: Książka
Język:angielski
Wydane: Dhaka : EECE DEPT MIST , c 2015.
Hasła przedmiotowe:
Thesis Paper of EECE in B.Sc Prog.
Electrical, Electronic and Communication Engineering. >
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Opis fizyczny:1094 p. : ill. ; 29 cm.

Podobne zapisy