Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Lienig, Jens
Weitere Verfasser: Rothe, Susann, Thiele, Matthias
Format: E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Springer Nature, 2025.
Schlagworte:
Online-Zugang:Access eBook
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