Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

Kaydedildi:

Detaylı Bibliyografya
Yazar:	Lienig, Jens
Diğer Yazarlar:	Rothe, Susann, Thiele, Matthias
Materyal Türü:	Ekitap
Dil:	İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi:	Springer Nature, 2025.
Konular:	Engineering
Online Erişim:	Access eBook
Etiketler:	Etiketle Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!

MARC


LEADER	00000nam a2200000 a 4500
001	24435
005	20261004183025.0
008	261004s2025 o 000 eng
020			\|a 978-3-031-80023-8
100	1		\|a Lienig, Jens \|9 51437
700	1		\|a Rothe, Susann \|9 51438
700	1		\|a Thiele, Matthias \|9 51439
245	0	0	\|a Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
260			\|b Springer Nature, \|c 2025.
300			\|a 1 online resource
650		4	\|a Engineering
538			\|a Mode of access: World Wide Web.
856	4	0	\|u https://library.mist.ac.bd/ebooks/10706/go?src=vufind \|z Access eBook
942			\|c EBOOK
999			\|c 24435 \|d 24435