Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автор: Li, Xiaowei
Інші автори: Yan, Guihai, Liu, Cheng
Формат: eКнига
Мова:Англійська
Опубліковано: Springer Nature, 2023.
Предмети:
Онлайн доступ:Access eBook
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 a 4500
001 16253
005 20261004181000.0
008 261004s2023 o 000 eng
020 |a 978-981-19-8551-5 
100 1 |a Li, Xiaowei  |9 35091 
700 1 |a Yan, Guihai  |9 35092 
700 1 |a Liu, Cheng  |9 1816 
245 0 0 |a Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design 
260 |b Springer Nature,  |c 2023. 
300 |a 1 online resource 
650 4 |a Computer Science  |9 69352 
538 |a Mode of access: World Wide Web. 
856 4 0 |u https://library.mist.ac.bd/ebooks/3124/go?src=vufind  |z Access eBook 
942 |c EBOOK 
999 |c 16253  |d 16253