Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Li, Xiaowei
Outros Autores: Yan, Guihai, Liu, Cheng
Formato: livro electrónico
Idioma:inglês
Publicado em: Springer Nature, 2023.
Assuntos:
Acesso em linha:Access eBook
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Descrição
Descrição Física:1 online resource
Formato:Mode of access: World Wide Web.
ISBN:978-981-19-8551-5